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IEEE TRANSACTIONS ON ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY
Rivista
Codice:
E079922
ISSN:
0018-9375
Dati Generali
Dati Generali
Pubblicazioni (7)
An EMI-Resistant Common-Mode Cancelation Differential Input Stage in UMC 180 nm CMOS
Articolo
CMOS OpAmp Resisting to Large Electromagnetic Interferences
Articolo
EMI Susceptibility of a Digitally Based Analog Amplifier in a 180-nm CMOS Process
Articolo
Increasing EMI Immunity in novel low-voltage CMOS OpAmps
Articolo
Reduction of EMI susceptibility in CMOS bandgap reference circuits
Articolo
Robust design of low EMI susceptibility CMOS OpAmp
Articolo
Susceptibility of the Instrumentation to Conducted EMI Injected Through the Ground Plane
Articolo
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