Determination of hot-carrier induced interface state density in polycrystalline silicon thin-film transistors
Articolo
Data di Pubblicazione:
1998
Tipologia CRIS:
1.1 Articolo in rivista
Elenco autori:
Mariucci, L.; Fortunato, G.; Carluccio, R.; Pecora, A.; Giovannini, S.; Massussi, F.; Colalongo, Luigi; Valdinoci, M.
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