Structural characterization of V2O5-TiO2 thin films deposited by RF sputtering from a titanium target with vanadium insets
Articolo
Data di Pubblicazione:
2005
Tipologia CRIS:
1.1 Articolo in rivista
Elenco autori:
Alessandri, Ivano; Comini, Elisabetta; Bontempi, Elza; Sberveglieri, Giorgio; Depero, Laura Eleonora
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