Modeling of glancing incidence X-ray for depth profiling of thin layers

Articolo
Data di Pubblicazione:
2007
Tipologia CRIS:
1.1 Articolo in rivista
Elenco autori:
Autori di Ateneo:
Link alla scheda completa:
https://iris.unibs.it/handle/11379/29394
Pubblicato in:
SPECTROCHIMICA ACTA, PART B: ATOMIC SPECTROSCOPY
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