Bidimensional X-ray diffraction analysis for structural and microstructural characterization of lanthanum manganite thin films
Articolo
Data di Pubblicazione:
2004
Tipologia CRIS:
1.1 Articolo in rivista
Elenco autori:
Alessandri, Ivano; Gelfi, Marcello; Bontempi, Elza; Roberti, Roberto; Depero, Laura Eleonora
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