Structural and gas response characterization of nano-size SnO2 films deposited by SILD method
Articolo
Data di Pubblicazione:
2003
Tipologia CRIS:
1.1 Articolo in rivista
Elenco autori:
Korotcenkov, G; Macsanov, V; Tolstoy, V; Brinzari, V; Schwank, J; Faglia, Guido
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