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  1. Pubblicazioni

Alignment of the CMS muon system with cosmic-ray and beam-halo muons

Articolo
Data di Pubblicazione:
2010
Abstract:
The CMS muon system has been aligned using cosmic-ray muons collected in 2008 and beam-halo muons from the 2008 LHC circulating beam tests. After alignment, the resolution of the most sensitive coordinate is 80 microns for the relative positions of superlayers in the same barrel chamber and 270 microns for the relative positions of endcap chambers in the same ring structure. The resolution on the position of the central barrel chambers relative to the tracker is comprised between two extreme estimates, 200 and 700 microns, provided by two complementary studies. With minor modifications, the alignment procedures can be applied using muons from LHC collisions, leading to additional significant improvements.
Tipologia CRIS:
1.1 Articolo in rivista
Keywords:
Instrumentation; Mathematical Physics
Elenco autori:
Chatrchyan, S; Khachatryan, V.; Sirunyan, A. M.; Adam, W.; Arnold, B.; Bergauer, H.; Bergauer, T.; Dragicevic, M.; Eichberger, M.; Erö, J.; Friedl, M.; Frühwirth, R.; Ghete, V. M.; Hammer, J.; Hansel, S.; Hoch, M.; Hörmann, N.; Hrubec, J.; Jeitler, M.; Kasieczka, G.; Kastner, K.; Krammer, M.; Liko, D.; De Magrans Abril, I.; Mikulec, I.; Mittermayr, F.; Neuherz, B.; Oberegger, M.; Padrta, M.; Pernicka, M.; Rohringer, H.; Schmid, S.; Schöfbeck, R.; Schreiner, T.; Stark, R.; Steininger, H.; Strauss, J.; Taurok, A.; Teischinger, F.; Themel, T.; Uhl, D.; Wagner, P.; Waltenberger, W.; Walzel, G.; Widl, E.; Wulz, C. E.; Chekhovsky, V.; Dvornikov, O.; Emeliantchik, I.; Litomin, A.; Makarenko, V.; Marfin, I.; Mossolov, V.; Shumeiko, N.; Solin, A.; Stefanovitch, R.; Suarez Gonzalez, J.; Tikhonov, A.; Fedorov, A.; Karneyeu, A.; Korzhik, M.; Panov, V.; Zuyeuski, R.; Kuchinsky, P.; Beaumont, W.; Benucci, L.; Cardaci, M.; De Wolf, E. A.; Delmeire, E.; Druzhkin, D.; Hashemi, M.; Janssen, X.; Maes, T.; Mucibello, L.; Ochesanu, S.; Rougny, R.; Selvaggi, M.; Van Haevermaet, H.; Van Mechelen, P.; Van Remortel, N.; Adler, V.; Beauceron, S.; Blyweert, S.; D'Hondt, J.; De Weirdt, S.; Devroede, O.; Heyninck, J.; Kalogeropoulos, A.; Maes, J.; Maes, M.; Mozer, M. U.; Tavernier, S.; Van Doninck, W.; Van Mulders, P.; Villella, I.; Bouhali, O.; Chabert, E. C.; Charaf, O.; Clerbaux, B.; De Lentdecker, G.; Dero, V.; Elgammal, S.; Gay, A. P. R.; Hammad, G. H.; Marage, P. E.; Rugovac, S.; Vander Velde, C.; Vanlaer, P.; Wickens, J.; Grunewald, M.; Klein, B.; Marinov, A.; Ryckbosch, D.; Thyssen, F.; Tytgat, M.; Vanelderen, L.; Verwilligen, P.; Basegmez, S.; Bruno, G.; Caudron, J.; Delaere, C.; Demin, P.; Favart, D.; Giammanco, A.; Grégoire, G.; Lemaitre, V.; Militaru, O.; Ovyn, S.; Piotrzkowski, K.; Quertenmont, L.; Schul, N.; Beliy, N.; Daubie, E.; Alves, G. A.; Pol, M. E.; Souza, M. H. G.; Carvalho, W.; De Jesus Damiao, D.; De Oliveira Martins, C.; De Fonseca Souza, S.; Mundim, L.; Oguri, V.; Santoro, A.; Silva Do Amaral, S. M.; Sznajder, A.; Fernandez Perez Tomei, T. R.; Ferreira Dias, M. A.; Gregores, E. M.; Novaes, S. F.; Abadjiev, K.; Anguelov, T.; Damgov, J.; Darmenov, N.; Dimitrov, L.; Genchev, V.; Iaydjiev, P.; Piperov, S.; Stoykova, S.; Sultanov, G.; Trayanov, R.; Vankov, I.; Dimitrov, A.; Dyulendarova, M.; Kozhuharov, V.; Litov, L.; Marinova, E.; Mateev, M.; Pavlov, B.; Petkov, P.; Toteva, Z.; Chen, G. M.; Chen, H. S.; Guan, W.; Jiang, C. H.; Liang, D.; Liu, B.; Meng, X.; Tao, J.; Wang, J.; Wang, Z.; Xue, Z.; Zhang, Z.; Ban, Y.; Cai, J.; Ge, Y.; Guo, S.; Hu, Z.; Mao, Y.; Qian, S. J.; Teng, H.; Zhu, B.; Avila, C.; Baquero Ruiz, M.; Carrillo Montoya, C. A.; Gomez, A.; Gomez Moreno, B.; Ocampo Rios, A. A.; Osorio Oliveros, A. F.; Reyes Romero, D.; Sanabria, J. C.; Godinovic, N.; Lelas, K.; Plestina, R.; Polic, D.; Puljak, I.; Antunovic, Z.; Dzelalija, M.; Brigljevic, V.; Duric, S.; Kadija, K.; Morovic, S.; Fereos, R.; Galanti, M.; Mousa, J.; Papadakis, A.; Ptochos, F.; Razis, P. A.; Tsiakkouri, D.; Zinonos, Z.; Hektor, A.; Kadastik, M.; Kannike, K.; Müntel, M.; Raidal, M.; Rebane, L.; Anttila, E.; Czellar, S.; Härkönen, J.; Heikkinen, A.; Karimäki, V.; Kinnunen, R.; Klem, J.; Kortelainen, M. J.; Lampen, T.; Lassila Perini, K.; Lehti, S.; Linden, T.; Luukka, P.; Mäenpää, T.; Nysten, J.; Tuominen, E.; Tuominiemi, J.; Ungaro, D.; Wendland, L.; Banzuzi, K.; Korpela, A.; Tuuva, T.; Nedelec, P.; Sillou, D.; Besancon, M.; Chipaux, R.; Dejardin, M.; Denegri, D.; Descamps, J.; Fabbro, B.; Faure, J. L.; Ferri, F.; Ganjour, S.; Gentit, F. X.; Givernaud, A.; Gras, P.; De Hamel Monchenault, G.; Jarry, P.; Lemaire, M. C.; Locci, E.; Malcles, J.; Marionneau, M.; Millischer, L.; Rander, J.; Rosowsky, A.; Rousseau, D.; Titov, M.; Verrecchia, P.; Baffioni, S.; Bianchini, L.; Bluj, M.; Busson, P.; Charlot, C.; Dobrzynski, L.; De Granier Cassagnac, R.; Haguenauer, M.; Miné, P.; Paganini, P.; Sirois, Y.; Thiebaux, C.; Zabi,
Autori di Ateneo:
PAGANO Davide
Link alla scheda completa:
https://iris.unibs.it/handle/11379/484231
Pubblicato in:
JOURNAL OF INSTRUMENTATION
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