Correlation between EMI-Induced Failures and Large-Signal Response of FET-Input Op-Amps

Articolo

Data di Pubblicazione:

1993

Tipologia CRIS:

1.1 Articolo in rivista

Elenco autori:

Golzio, D.; Graffi, S.; KOVACS VAJNA, Zsolt Miklos; Masetti, G.

Autori di Ateneo:

KOVACS VAJNA Zsolt Miklos

Link alla scheda completa:

https://iris.unibs.it/handle/11379/7180

Pubblicato in:

QUALITY AND RELIABILITY ENGINEERING INTERNATIONAL

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