A critical comparison between XRD and FIB residual stress measurement techniques in thin films
Articolo
Data di Pubblicazione:
2014
Tipologia CRIS:
1.1 Articolo in rivista
Elenco autori:
Bemporad, E.; Brisotto, Mariangiola; Depero, Laura Eleonora; Gelfi, Marcello; Korsunsky, A. M.; Lunt, A. J. G.; Sebastiani, M.
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