Soft x-ray resonant magnetic reflectivity studies for in-and out-of-plane magnetization profile in ultra thin films
Articolo
Data di Pubblicazione:
2010
Tipologia CRIS:
1.1 Articolo in rivista
Elenco autori:
J. M., Tonnerre; N., Jaouen; Bontempi, Elza; D., Carbone; D., Babonneau; M., De Santis; H. C. N., Tolentino; S., Grenier; S., Garaudee; U., Staub
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